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高分辨多维全谱纳米电学
发布时间:2018-04-28 17:23:28 7724

Hao Sun, PhD (孙昊博士)

Senior Manager (中国区资深技术支持经理)

Bruker Nano Surfaces, Beijing, China (布鲁克北京办公室)

2018年5月4日15:30-16:30,A栋307

 

【讲座主题】高分辨多维全谱纳米电学

 

【报告简介】在本次讲座中,孙昊博士主要为您介绍布鲁克在纳米电学测量方面的完备的解决方案,不但包括布鲁克原有的电学测量模式,还将重点介绍全新的数据立方体模式(DataCube Mode)。使用该模式,您将可以得到样品原位的电学及力学的三维数据。该全新模式包含以下电学测量技术:导电性测量DCUBE-TUNA,DCUBE-CAFM,DCUBE-SSRM;阻抗测量DCUE-SSRM;载流子浓度测量DCUBE-SCM,DCUBE-SMIM,DCUBE-SSRM;压电测量DCUBE-PFM,DCUBE-CR-PFM;局域电化学性质测量DCUBE-SECM以及电场分布测量DCUBE-EFM。

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【报告人简介】孙博士于 2010 年毕业于北京大学化学与分子工程学院,获得博士学位。博士期间在李彦教授课题组,研究基于扫描探针显微镜的无机纳米材料制备与表征。博士毕业以后,加入布鲁克公司担任技术支持工程师。 2012 年起孙博士担任中国客户服务中心主管、售后服务主管、培训师,并参与创建了布鲁克中国客户服务中心,完善了售后服务体系。 2016 年起担任应用科学家,主要负责新产品的部分开发与推广。2018 年起任中国区资深技术支持经理,负责全中国区的售后服务。