主讲人： 陈震 研究员,中国科学院物理研究所 

题   目：原子尺度点缺陷及其诱导的结构畸变成像

日   期：2024 年 6 月 20 日   时 间：10:00-11:30

地   点：T2306

*** 欢迎各界人士参加 ***

Abstract：

固体材料中空位和掺杂等点缺陷是调控材料性能的重要手段之一，广泛用于催化、半导体和量子材料等领域。研究这些点缺陷的存在形式及其诱导的结构畸变至关重要，但是在原子尺度上对其直接成像却极具挑战。在本报告中，我将重点介绍我们最近在透射电子显微成像技术方面取得的突破，特别是多片层电子叠层成像技术突破极限的三维空间分辨率(Science, 372, 826 (2021))。利用这类技术，我们实现了单原子点缺陷及其三维结构畸变的精确测定(arXiv: 2406.04252 (2024))。我们进一步开发了原子分辨轻元素含量的定量成像方法，并首次实现了原子尺度氧空位含量精确可靠的定量测量。发现在镍基高温超导材料La3Ni2O7中氧空位主要存在于中间顶点氧位，且在纳米尺度存在很强的分布不均匀性，并结合电子能量损失谱，成功将氧空位和空穴浓度原子面分布直接关联起来，解释了该体系超导体积分数偏小的原因，并揭示了重要的电子态特征(Nature (2024))。这些成像技术的发展为功能材料三维微观结构和电磁拓扑结构的高分辨率和高精度成像提供了很多新的机遇(Nature Nanotechnology, 17, 1165 (2022))。

主讲人简介：陈震，中国科学院物理研究所特聘研究员，博士生导师，获得国家和中科院基金支持，承担多项国家重大研究项目。博士毕业于中国科学院物理研究所，之后于澳大利亚莫纳什大学和美国康奈尔大学做博士后，曾任清华大学材料学院北京电子显微镜中心副研究员。主要致力于电子显微学技术开发和功能材料研究，相关研究工作获得图像分辨率吉尼斯世界纪录和两院院士评选的2021年世界十大科技进展新闻之一。入选MIT Technology Review 2021年度中国区35位35岁以下创新人物、获得美国显微学会博士后奖和《Microscopy Today》创新奖等。