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我校电信学院微电子学生入选第二十六届亚太测试会议最佳论文候选者
发布时间:2017-12-04 16:44:55 375

(图/文 钱学森) 2017年11月27日至30日,第二十六届亚太测试会议(The 26th IEEE Asian Test Symposium:ATS)在台北君品酒店举行。由我校区电子与信息工程学院崔爱娇老师指导的2015级硕士研究生钱学森完成的论文“A new active IC metering technique based on locking scan cells”入选最佳论文候选者(Best Paper Candidate),据悉本次会议共有4篇文章入选最佳论文候选论文。钱学森同学在大会做了本文的报告。崔爱娇老师受邀在“硬件安全专题”中做了题为“How to secure scan design against scan-based side-channel attacks?”的报告。

ATS每年在亚洲举办一次,是集成电路测试领域的一级会议,也是中国计算机学会(CCF)认定的C类会议。本次会议为期4天,就存储器测试、三维IC测试,测试压缩、硬件安全、提高成品率以及诊断与调试等13个议题在各个分会场展开了报告与讨论。