（图/文 钱学森） 2017年11月27日至30日，第二十六届亚太测试会议（The 26th IEEE Asian Test Symposium：ATS）在台北君品酒店举行。由我校区电子与信息工程学院崔爱娇老师指导的2015级硕士研究生钱学森完成的论文“A new active IC metering technique based on locking scan cells”入选最佳论文候选者（Best Paper Candidate），据悉本次会议共有4篇文章入选最佳论文候选论文。钱学森同学在大会做了本文的报告。崔爱娇老师受邀在“硬件安全专题”中做了题为“How to secure scan design against scan-based side-channel attacks?”的报告。

ATS每年在亚洲举办一次，是集成电路测试领域的一级会议，也是中国计算机学会（CCF）认定的C类会议。本次会议为期4天，就存储器测试、三维IC测试，测试压缩、硬件安全、提高成品率以及诊断与调试等13个议题在各个分会场展开了报告与讨论。